特点
1. 自动化功能
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高度集成自动化功能追求高效率检测
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降低检测中的人为操作误差
4英寸自动马达台
自动更换悬臂功能
2. 可靠性
排除机械原因造成的误差
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大范围水平扫描
采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。
AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。
Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate
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高精角度测量
普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。
AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。
Sample : Textured-structure solar battery(having symmetrical structure due to its crystal orientation.)
3. 融合性
亲密融合其他检测分析方式
通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察・分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。
SEM-AFM在同一视野观察实例(样品:石墨烯/SiO2)
The ovrlay images createed by using AZblend Ver.2.1, ASTRON Inc.
上图是AFM5500M拍摄的形状像(AFM像)和电位像(KFM像)分别和SEM图像叠加的应用数据。
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通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。
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石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。
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SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。
参数
AFM5500M 主机
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马达台
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自动精密马达台
最大观察范围:100 mm (4英寸)全域
马达台移动范围:XY ± 50 mm、Z ≥21 mm
最小步距:XY 2 µm、Z 0.04 µm
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最大样品尺寸
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直径:100 mm(4英寸)、厚度:20 mm
样品重量:2 kg
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扫描范围
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200 µm x 200 µm x 15 µm (XY:闭环控制 / Z:感应器监控)
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RMS噪音水平*
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0.04 nm 以下(高分辨率模式)
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复位精度*
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XY: ≤15 nm(3σ、计量10 μm的标准间距) / Z: ≤1 nm (3σ、计量100 nm 的标准深度)
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XY直角度
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±0.5°
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BOW*
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2 nm/50 µm 以下
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检测方式
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激光检测(低干涉光学系统)
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光学显微镜
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放大倍率:x1 ~ x7
视野范围:910 µm x 650 µm ~ 130 µm x 90 µm
显示倍率:x465 ~ x3,255(27英寸显示器)
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减震台
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台式主动减震台 500 mm(W) x 600 mm (D) x 84 mm (H)、约28 kg
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防音罩
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750 mm(W) x 877 mm (D) x 1400 mm(H)、 约 237 kg
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大小・重量
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400 mm(W) x 526 mm(D) x 550 mm(H)、约 90 kg
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AFM5500M 专用原子力显微镜工作站
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OS
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Windows7
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RealTune®II
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自动调节悬臂振幅、接触力、扫描速率以及信号反馈
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操作画面
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操作导航功能、多窗口显示功能(测试/分析)、3D图像叠加功能、扫描范围/测量履历显示功能、数据批处理分析功能、探针评估功能
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X, Y, Z扫描驱动电压
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0~150 V
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时时测试(像素点)
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4画面(最大2,048 x 2,048)
2画面(最大4,096 x 4,096)
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长方形扫描
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2:1、4:1、8:1、16:1、32:1、64:1、128:1、256:1、512:1、1,024:1
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分析软件
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3D显示功能、粗糙度分析、截面分析、平均截面分析
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自动控制功能
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自动更换悬臂、自动激光对中
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大小・重量
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340 mm(W) x 503 mm(D) x 550 mm(H)、约 34 kg
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电源
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AC100 ~ 240 V ±10% 交流
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测试模式
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标配:AFM、DFM、PM(相位)、FFM 选配:SIS形貌、SIS物理特性、LM-FFM、VE-AFM、Adhesion、Current、Pico-Current、SSRM、PRM、KFM、EFM(AC)、EFM(DC)、MFM
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*WINDOWS 是、美国 Microsoft Corporation 在美国及美国以外国家注册商标。
*RealTune是日立高新科学公司在日本、美国以及欧洲的注册商标。
选配项:SEM-AFM联用系统
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可适用的日立SEM型号
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SU8240、SU8230(H36 mm型)、SU8220(H29 mm型)
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样品台大小
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41 mm(W) x 28 mm(D) x 16 mm (H)
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最大样品尺寸
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Φ20 mm x 7 mm
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对中精度
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±10 µm (AFM对中精度)
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视频