异物分析

X射线荧光分析仪可以定性、定量分析固体、粉末、液体样品，而且无需前处理。采取非破坏性分析方式，十分适合食品中的异物分析。特别是X射线垂直照射样品的装置，X射线可准确照射到表面凹凸的食品上附着的异物，通过对比异物部分及其周边区的XRF数据，可简单确定异物的成分。