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X射线荧光分析仪(XRF)

LIB正极材料中的金属异物分析

X射线荧光分析仪可以定性、定量分析样品中的元素。EA8000利用透射X射线可快速检测异物,然后再通过XRF可对该异物做定性分析。仪器支持快速且简便分析LIB或FC零配件中的金属异物,十分适用于材料检测、工程管理、不良品分析等。

NMC正极材料背面的SUS颗粒异物分析结果 (透射X射线图像以及Fe的XRF图像)
NMC正极材料背面的SUS颗粒异物分析结果 (透射X射线图像以及Fe的XRF图像)
X 射线异物分析仪 EA8000
X 射线异物分析仪 EA8000