当前位置：网站首页|解决方案|使用场发射电镜观察半导体器件电位衬度
场发射电镜观察SRAM（静态随机存储器）的接触窗插塞表面，在低加速电压下，由于下层结构中不同插塞的表面电势差异，造成二次电子产额不同，从而可以很好区分PMOS，NMOS和栅极。