首页
关于我们
产品中心
解决方案
新闻中心
联系我们
首页
关于我们
产品中心
解决方案
新闻中心
联系我们
当前位置:
网站首页
|
解决方案
|
使用场发射电镜对3D NAND闪存截面进行高分辨观察
3D NAND闪存截面经过离子研磨处理,通过高分辨场发射电镜观察,存储单元中的每一叠层(SiN, 多晶硅 和 SiO层)清晰可见