首页
关于我们
产品中心
解决方案
新闻中心
联系我们
首页
关于我们
产品中心
解决方案
新闻中心
联系我们
当前位置:
网站首页
|
产品中心
全部
X射线镀层测厚仪
扫描电子显微镜
外围仪器
聚焦离子束系统 (FIB/FIB-SEM)
原子力显微镜
纳米尺度3D光学干涉测量系统(CSI)
液相色谱仪
手持光谱仪
汞分析仪
全自动生化分析仪
紫外/荧光分光光度计
电位/水分滴定仪
台式XRF光谱仪
氨基酸分析仪
热分析仪
离子研磨仪
离子溅射仪
原子吸收分光光度计
电子显微镜
FT160 | 用于电子行业的强大XRF镀层测厚仪
FT230 | 用于快速镀层分析的自动XRF
FT110A | 台式XRF镀层测厚仪
X-Strata920 | 灵活多用途的台式XRF镀层测厚仪
上一页
下一页